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- Kartoniert
- 138 Seiten
- Erschienen 1997
- Deutscher Universitätsvlg
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Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen. von Schröder-Oeynhausen, Frank
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