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Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs

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Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
3824420910
Seitenzahl:
138
Auflage:
-
Erschienen:
1997-09-23
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Beschreibung

Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen. von Schröder-Oeynhausen, Frank

Produktdetails

Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
138
Erschienen:
1997-09-23
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783824420919
ISBN:
3824420910
Gewicht:
197 g
Auflage:
-
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Über den Autor

Dr. Frank Schröder-Oeynhausen studierte Physik an der Universität zu Köln und Betriebswirtschaft an der FernUniversität Hagen. Er ist Technologieberater beim VDI in Düsseldorf.


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