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Optical Long-Baseline Interferometry

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Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
3836491702
Verlag:
Seitenzahl:
120
Auflage:
-
Erschienen:
2008-09-01
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Beschreibung

Optical Long-Baseline Interferometry
Concept, Implementation, Calibration, and Application in Astronomy

In the quest to look ever closer at astronomical objects, optical long-baseline interferometry has become a standard tool for astronomers. It can achieve spatial resolutions exceeding that of even the largest telescope. Offered at major observatories where interferometric instruments provide high spatial resolution often combined with spectral information, optical long-baseline interferometry allows for the detailed study of astronomical objects and processes in their environment. The author Peter A. Schuller introduces the basic concepts of optical long-baseline interferometry and uses the example of a particular instrument to illustrate various aspects in the development and the operation of an astronomical interferometer. Focus is put on the calibration of the instrument both in the laboratory and during observations. The potential of astronomical interferometry is highlighted by a study in which interferometric data is used to constrain computer models of astronomical objects. This book is aimed at readers with some background in science and engineering seeking a brief introduction to optical long-baseline interferometry in concept, implementation and application.

Produktdetails

Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
120
Erschienen:
2008-09-01
Sprache:
Englisch
EAN:
9783836491709
ISBN:
3836491702
Verlag:
Gewicht:
199 g
Auflage:
-
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Über den Autor

Peter A. Schuller, Dipl.-Phys., Dr. rer. nat.: Studies of physics and astronomy at the universities of Stuttgart and Heidelberg, Germany. Astrophysicist at the Harvard-Smithsonian Center for Astrophysics, Cambridge MA, USA; Researcher at the Institut d'As


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