CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
1402083629
Verlag:
Seitenzahl:
196
Auflage:
-
Erschienen:
2008-06-21
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Beschreibung
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test
The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges. von Pavlov, Andrei und Sachdev, Manoj
Produktdetails
Einband:
Gebunden
Seitenzahl:
196
Erschienen:
2008-06-21
Sprache:
Englisch
EAN:
9781402083624
ISBN:
1402083629
Verlag:
Gewicht:
445 g
Auflage:
-
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