Ageing of Integrated Circuits: Causes, Effects and Mitigation Techniques
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Beschreibung
"Ageing of Integrated Circuits: Causes, Effects and Mitigation Techniques" von Basel Halak bietet eine umfassende Untersuchung der Alterungsprozesse in integrierten Schaltungen. Das Buch behandelt die verschiedenen Ursachen für das Altern von ICs, wie etwa physikalische Abnutzung und Umwelteinflüsse, und analysiert deren Auswirkungen auf die Leistung und Zuverlässigkeit elektronischer Systeme. Darüber hinaus werden verschiedene Strategien und Techniken zur Minderung dieser Alterungseffekte vorgestellt, um die Lebensdauer und Funktionalität von Schaltkreisen zu verlängern. Der Autor kombiniert theoretische Ansätze mit praktischen Lösungen und richtet sich sowohl an Forscher als auch an Ingenieure, die sich mit der Entwicklung robusterer elektronischer Komponenten beschäftigen.
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