Noise in High-Frequency Circuits and Oscillators
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Beschreibung
„Noise in High-Frequency Circuits and Oscillators“ von Heinz-Jürgen Siweris behandelt die theoretischen Grundlagen und praktischen Aspekte des Rauschens in Hochfrequenzschaltungen und Oszillatoren. Das Buch bietet eine umfassende Analyse der verschiedenen Arten von Rauschen, die in solchen Schaltungen auftreten können, und deren Auswirkungen auf die Leistung elektronischer Systeme. Es erklärt die physikalischen Mechanismen hinter dem Rauschen, mathematische Modelle zur Beschreibung von Rauschprozessen sowie Techniken zur Messung und Reduzierung von Rauschen. Praktische Beispiele und Anwendungen illustrieren die Bedeutung des Themas für Ingenieure und Entwickler im Bereich Hochfrequenztechnik.
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