Noise in High-Frequency Circuits and Oscillators
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Beschreibung
„Noise in High-Frequency Circuits and Oscillators“ von Heinz-Jürgen Siweris behandelt die komplexen Aspekte des Rauschverhaltens in Hochfrequenzschaltungen und Oszillatoren. Das Buch bietet eine umfassende Analyse der verschiedenen Arten von Rauschen, die in elektronischen Schaltungen auftreten können, und deren Auswirkungen auf die Leistung von Hochfrequenzsystemen. Es erklärt theoretische Grundlagen und praktische Methoden zur Messung und Reduzierung von Rauschen, um die Effizienz und Zuverlässigkeit von Schaltungen zu verbessern. Durch detaillierte Fallstudien und Anwendungsbeispiele wird verdeutlicht, wie Ingenieure das Verständnis von Rauschphänomenen nutzen können, um optimierte Designs für Kommunikations- und Signalverarbeitungssysteme zu entwickeln.
Produktdetails
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Über den Autor
- Hardcover
- 320 Seiten
- Erschienen 2022
- Wiley-ASME Press
- paperback
- 704 Seiten
- Erschienen 2014
- Academic Press
- Kartoniert
- 626 Seiten
- Erschienen 1997
- Springer



