Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization
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Beschreibung
"Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization" von Mario Birkholz bietet eine umfassende Einführung in die Anwendung von Röntgenstreuungstechniken zur Analyse dünner Schichten. Das Buch deckt grundlegende Prinzipien und fortgeschrittene Methoden ab, die für die strukturelle Charakterisierung von Dünnfilmen relevant sind. Es behandelt Themen wie Röntgendiffraktometrie, Reflexionsmessungen und Streuungstechniken und erklärt deren Einsatz zur Bestimmung von Kristallstrukturen, Schichtdicken, Texturen und Spannungen in dünnen Filmen. Der Autor kombiniert theoretische Grundlagen mit praktischen Anwendungen und bietet zahlreiche Beispiele aus der Forschungspraxis. Dieses Werk richtet sich an Wissenschaftler und Ingenieure in den Bereichen Materialwissenschaften, Physik und Chemie, die sich mit der Untersuchung von Dünnschichtmaterialien beschäftigen.
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