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Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization

Birkholz, Mario

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Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
9783527310524
Verlag:
Wiley-VCH
Seitenzahl:
378
Auflage:
-
Erschienen:
2005-10-26
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Beschreibung

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization

Produktdetails

Einband:
hardcover
Seitenzahl:
378
Erschienen:
2005-10-26
Sprache:
Englisch
EAN:
9783527310524
ISBN:
9783527310524
Verlag:
Wiley-VCH
Gewicht:
840 g
Auflage:
-
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Birkholz, Mario

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