
Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
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Beschreibung
"Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells" von Thomas Kirchartz bietet eine umfassende Einführung in die verschiedenen fortgeschrittenen Methoden zur Analyse und Charakterisierung von Dünnschichtsolarzellen. Das Buch deckt eine Vielzahl von Techniken ab, darunter optische, elektronische und strukturelle Analysemethoden, die für das Verständnis und die Verbesserung der Effizienz dieser Solarzellen entscheidend sind. Es richtet sich sowohl an Forscher als auch an Ingenieure im Bereich der Photovoltaik und bietet detaillierte Einblicke in experimentelle Ansätze sowie theoretische Modelle. Durch Fallstudien und praktische Beispiele wird verdeutlicht, wie diese Techniken zur Optimierung des Designs und der Leistung von Dünnschichtsolarzellen eingesetzt werden können.
Produktdetails

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Über den Autor
- Kartoniert
- 215 Seiten
- Erschienen 2009
- Vieweg+Teubner Verlag
- Gebunden
- 352 Seiten
- Erschienen 2015
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 1088 Seiten
- Erschienen 2012
- -
- paperback
- 818 Seiten
- Erschienen 2024
- Elsevier
- Gebunden
- 209 Seiten
- Erschienen 2016
- De Gruyter
- hardcover
- 283 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 346 Seiten
- Erschienen 2008
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 352 Seiten
- Erschienen 2011
- Wiley-VCH
- Kartoniert
- 294 Seiten
- Erschienen 2016
- De Gruyter
- Gebunden
- 250 Seiten
- Erschienen 2011
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 394 Seiten
- Erschienen 2015
- Academic Press
- Gebunden
- 557 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 264 Seiten
- Erschienen 2020
- Wiley
- Gebunden
- 435 Seiten
- Erschienen 2011
- Wiley-VCH