Ion Beams for Materials Analysis
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Beschreibung
"Ion Beams for Materials Analysis" von J. S. Williams ist ein Fachbuch, das sich mit der Anwendung von Ionenstrahlen zur Analyse und Charakterisierung von Materialien beschäftigt. Es bietet eine umfassende Einführung in die physikalischen Grundlagen der Ionenstrahltechniken und deren Einsatz in der Materialwissenschaft. Das Buch behandelt verschiedene Analysemethoden wie Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS), Nuclear Reaction Analysis (NRA) und Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). Zudem werden praktische Aspekte der Experimentaldurchführung sowie die Interpretation der Ergebnisse diskutiert. Zielgruppe des Buches sind Wissenschaftler und Ingenieure, die in den Bereichen Materialforschung und -entwicklung tätig sind.
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