Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods
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Beschreibung
"Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods" von Chris G. Van de Walle ist ein umfassendes Werk, das sich auf die komplexen Berechnungen konzentriert, die zur Identifizierung und Analyse von Materialdefekten erforderlich sind. Das Buch bietet einen detaillierten Einblick in elektronische Strukturmethoden, die bei der Untersuchung von Defekten in einer Vielzahl von Materialien verwendet werden. Es bietet auch eine gründliche Erklärung der Theorien und Modelle, die diesen Methoden zugrunde liegen. Darüber hinaus enthält das Buch zahlreiche Beispiele und Übungen, um den Lesern zu helfen, ihr Verständnis für diese komplexen Konzepte zu vertiefen. Es dient als wertvolles Ressourcenmaterial für Forscher und Studenten auf dem Gebiet der Materialwissenschaft und Physik.
Produktdetails
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Über den Autor
- Hardcover
- 352 Seiten
- Erschienen 2012
- Oxford University Press
- Gebunden
- 285 Seiten
- Erschienen 2018
- Springer
- Gebunden
- 517 Seiten
- Erschienen 2012
- Springer
- Hardcover
- 576 Seiten
- Erschienen 1986
- Wiley-Interscience
- Gebundene Ausgabe
- 374 Seiten
- Erschienen 2020
- Wiley-Interscience
- Hardcover -
- Erschienen 2013
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 416 Seiten
- Erschienen 1991
- Springer
- Hardcover
- 304 Seiten
- Erschienen 2019
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 992 Seiten
- Erschienen 1974
- Wiley-Interscience
- Hardcover
- 592 Seiten
- Erschienen 1997
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 616 Seiten
- Erschienen 1991
- De Gruyter Oldenbourg
- Hardcover
- 232 Seiten
- Erschienen 2021
- Springer
- hardcover
- 364 Seiten
- Erschienen 2005
- Springer
- Hardcover
- 684 Seiten
- Erschienen 1999
- Springer
- Gebunden
- 380 Seiten
- Erschienen 2005
- Springer
- Gebunden
- 302 Seiten
- Erschienen 2014
- Wiley-VCH