Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods
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Beschreibung
"Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods" von Chris G. Van de Walle bietet eine umfassende Einführung in die theoretischen und rechnerischen Methoden zur Analyse von Defekten in Materialien. Das Buch konzentriert sich auf elektronische Strukturmethoden, die es ermöglichen, die Eigenschaften von Materialdefekten präzise zu untersuchen. Es deckt verschiedene Ansätze ab, darunter Dichtefunktionaltheorie (DFT) und andere fortgeschrittene Berechnungstechniken. Der Autor erläutert detailliert, wie diese Methoden angewandt werden können, um das Verhalten von Punktdefekten, Versetzungen und Grenzflächen zu verstehen. Ziel ist es, Forschern und Ingenieuren Werkzeuge an die Hand zu geben, um Materialeigenschaften gezielt zu optimieren und neue Materialien mit verbesserten Eigenschaften zu entwickeln.
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