Um Studibuch in vollem Umfang nutzen zu können, empfehlen wir Dir Javascript in Deinem Browser zu aktiveren.

Nachhaltiges Unternehmen

Faire Preise

Schneller und kostenloser Versand ab 14,90 € Bestellwert

$Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)$

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)

Name: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Price: 4.44 EUR
Availability: InStock
Author: Howe, James M.
ISBN: 9783540678410

Howe, James M.

inkl. MwSt. Versandinformationen

Lieferzeit 1-3 Werktage

4,44 €

Lieferzeit 1-3 Werktage

Kurzinformation

Sprache:

Englisch

ISBN:

9783540678410

Verlag:

Springer

Seitenzahl:

767

Auflage:

Erschienen:

2001-01-26

Mit diesem Kauf sparst Du 2,06 kg CO₂

Mehr Informationen zum Zustand

Gebrauchte Bücher kaufen

Information

Das Buch befindet sich in einem sehr guten, unbenutzten Zustand.

Information

Das Buch befindet sich in einem sehr guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können leichte Gebrauchsspuren aufweisen.

Information

Das Buch befindet sich in einem guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können Knicke/Gebrauchsspuren aufweisen.

Akzeptabel 4,44 €

Starke Gebrauchsspuren, Seiten und Bindung beschädigt
Knicke oder Markierungen nicht mehr als 20%
CDs und Zugangscodes können fehlen
Auflage kann abweichen

Information

Das Buch befindet sich in einem lesbaren Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt, jedoch weisen Buchrücken/Ecken/Kanten starke Knicke/Gebrauchsspuren auf. Zusatzmaterialien können fehlen.

Neues Buch oder eBook (pdf) kaufen

Information

Neuware - verlagsfrische aktuelle Buchausgabe.

Neu bestellen bei

Handgeprüfte Gebrauchtware

Schnelle Lieferung

Faire Preise

inkl. MwSt. Versandinformationen

Lieferzeit 1-3 Werktage

4,44 €

Lieferzeit 1-3 Werktage

Weitere Zahlungsmöglichkeiten

Beschreibung

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)

Diese Beschreibung wurde mittels künstlicher Intelligenz generiert

"Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials" von James M. Howe ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Diffraktometrie in der Materialwissenschaft beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die theoretischen und praktischen Aspekte dieser Techniken, einschließlich der physikalischen Prinzipien, Instrumentierung und Methodik. Es behandelt Themen wie Elektronenbeugung, Bildgebungstechniken, Analyse von Kristallstrukturen und Defekten sowie fortgeschrittene Methoden zur Charakterisierung von Materialien auf atomarer Ebene. Durch zahlreiche Abbildungen, Diagramme und Beispielprobleme vermittelt das Buch sowohl grundlegende Konzepte als auch fortgeschrittene Anwendungen für Studierende und Forscher im Bereich Physik und Materialwissenschaften.