
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
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Beschreibung
"Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials" von James M. Howe ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Diffraktometrie in der Materialwissenschaft beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die theoretischen und praktischen Aspekte dieser Techniken, einschließlich der physikalischen Prinzipien, Instrumentierung und Methodik. Es behandelt Themen wie Elektronenbeugung, Bildgebungstechniken, Analyse von Kristallstrukturen und Defekten sowie fortgeschrittene Methoden zur Charakterisierung von Materialien auf atomarer Ebene. Durch zahlreiche Abbildungen, Diagramme und Beispielprobleme vermittelt das Buch sowohl grundlegende Konzepte als auch fortgeschrittene Anwendungen für Studierende und Forscher im Bereich Physik und Materialwissenschaften.
Produktdetails

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Über den Autor
- Hardcover
- 840 Seiten
- Erschienen 2009
- Springer
- Gebunden
- 587 Seiten
- Erschienen 2008
- Springer
- Gebunden
- 416 Seiten
- Erschienen 1991
- Springer
- Gebunden
- 427 Seiten
- Erschienen 2006
- Wiley-VCH
- paperback
- 324 Seiten
- Erschienen 1997
- Teubner Verlag
- Hardcover
- 592 Seiten
- Erschienen 1997
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 532 Seiten
- Erschienen 1984
- Wspc
- Kartoniert
- 248 Seiten
- Erschienen 2009
- Springer
- hardcover
- 640 Seiten
- Erschienen 2000
- Springer
- Gebunden
- 313 Seiten
- Erschienen 2008
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 285 Seiten
- Erschienen 2018
- Springer
- paperback
- 340 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Hardcover
- 616 Seiten
- Erschienen 1991
- De Gruyter Oldenbourg
- hardcover
- 364 Seiten
- Erschienen 2005
- Springer
- Gebunden
- 570 Seiten
- Erschienen 2010
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 383 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH