Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
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Beschreibung
"Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials" von James M. Howe ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Techniken und Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Beugungsanalyse von Materialien befasst. Das Buch ist Teil der Reihe "Advanced Texts in Physics" und richtet sich an fortgeschrittene Studenten sowie Fachleute in den Bereichen Materialwissenschaften, Physik und Ingenieurwesen. Inhaltlich deckt das Buch die Grundlagen und fortgeschrittene Konzepte der TEM ab, einschließlich der theoretischen Prinzipien, Instrumentierung und Methodik. Es behandelt detailliert die Bildgebungstechniken, Elektronenbeugung sowie die Analyse von Kristallstrukturen und Defekten in Materialien. Zudem werden praktische Aspekte wie Probenvorbereitung und Dateninterpretation erläutert. Ein besonderer Fokus liegt auf der Anwendung dieser Techniken zur Untersuchung von Mikrostrukturen in verschiedenen Materialklassen. Durch zahlreiche Abbildungen, Diagramme und Beispiele wird das Verständnis für komplexe Themen erleichtert. Das Buch dient sowohl als Lehrmaterial für Universitätskurse als auch als Nachschlagewerk für Forscher, die TEM in ihrer Arbeit einsetzen.
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