Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
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Beschreibung
"Electron Microscopy and Analysis, Third Edition" von Peter J. Goodhew ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Elektronenmikroskopie beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die Theorie und Praxis der Elektronenmikroskopie, einschließlich Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Es behandelt die physikalischen Prinzipien, die den Techniken zugrunde liegen, sowie die technischen Aspekte der Mikroskopiegeräte. Darüber hinaus werden verschiedene Analysemethoden erläutert, die es ermöglichen, die Struktur und Zusammensetzung von Materialien auf atomarer Ebene zu untersuchen. Die dritte Ausgabe wurde aktualisiert, um neueste Entwicklungen in der Technologie und Methodik zu berücksichtigen. Das Buch richtet sich an Studierende und Fachleute in den Bereichen Materialwissenschaften, Physik und Ingenieurwesen und dient sowohl als Lehrbuch für Kurse als auch als Referenzwerk für Praktiker in der Forschung.
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