Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
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Beschreibung
"Electron Microscopy and Analysis, Third Edition" von Peter J. Goodhew ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Elektronenmikroskopie beschäftigt. Das Buch richtet sich an Studierende und Fachleute in den Materialwissenschaften, Physik und verwandten Disziplinen. Es deckt die wesentlichen Konzepte der Elektronenmikroskopie ab, einschließlich der physikalischen Prinzipien der Elektronenstrahlinteraktion mit Materie, der verschiedenen Techniken wie Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM), sowie der Analyse- und Bildgebungsverfahren. Darüber hinaus behandelt es praktische Aspekte des Betriebs von Mikroskopen und die Interpretation von Ergebnissen. Die dritte Auflage wurde aktualisiert, um neuere Entwicklungen in diesem schnell fortschreitenden Gebiet zu berücksichtigen.
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