Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
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Beschreibung
"Electron Microscopy and Analysis, Third Edition" von Peter J. Goodhew ist ein umfassendes Werk, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Elektronenmikroskopie beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die verschiedenen Arten der Elektronenmikroskopie, einschließlich Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Es erklärt die physikalischen Prinzipien hinter der Technik, beschreibt die Instrumentierung und diskutiert die Vorbereitung von Proben für die Analyse. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf der praktischen Anwendung dieser Techniken zur Materialanalyse. Dazu gehören Methoden zur Bestimmung von Struktur, Zusammensetzung und Eigenschaften von Materialien auf mikroskopischer Ebene. Das Buch richtet sich an Studierende und Fachleute in den Bereichen Materialwissenschaften, Physik und Ingenieurwesen und dient als wertvolle Ressource sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Anwender der Elektronenmikroskopie.
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