Scanning Force Microscopy of Polymers (Springer Laboratory)
inkl. MwSt. Versandinformationen
Lieferzeit 1-3 Werktage
Lieferzeit 1-3 Werktage
Kurzinformation
Handgeprüfte Gebrauchtware
Schnelle Lieferung
Faire Preise
inkl. MwSt. Versandinformationen
Lieferzeit 1-3 Werktage
Lieferzeit 1-3 Werktage
Beschreibung
"Scanning Force Microscopy of Polymers" von G. Julius Vancso bietet eine umfassende Einführung in die Anwendung der Rasterkraftmikroskopie (AFM) zur Untersuchung von Polymeren. Das Buch deckt sowohl die theoretischen Grundlagen als auch praktische Aspekte der Technik ab und erläutert, wie AFM genutzt werden kann, um die Oberflächenstruktur, mechanische Eigenschaften und andere physikalische Merkmale von Polymermaterialien zu analysieren. Es richtet sich an Wissenschaftler und Ingenieure, die in der Materialwissenschaft und Polymerforschung tätig sind, und bietet wertvolle Einblicke in fortschrittliche Analysemethoden für die Charakterisierung von Polymeren auf nanoskaliger Ebene.
Produktdetails
So garantieren wir Dir zu jeder Zeit Premiumqualität.
Entdecke mehr vom Verlag
