Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis (Springer Series in Optical Sciences, 36)
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Beschreibung
"Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis" von Ludwig Reimer ist ein umfassendes Werk, das sich mit den physikalischen Grundlagen und Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) befasst. Das Buch gehört zur renommierten Springer Series in Optical Sciences und bietet eine detaillierte Einführung in die Theorie und Praxis der TEM. Der Inhalt des Buches deckt eine Vielzahl von Themen ab, darunter die Prinzipien der Elektronenoptik, die Wechselwirkung von Elektronen mit Materie sowie die verschiedenen Techniken zur Bildgebung und Analyse. Reimer erklärt die Mechanismen der Bildentstehung im Detail und beschreibt, wie mikroskopische Strukturen auf atomarer Ebene sichtbar gemacht werden können. Ein besonderer Schwerpunkt liegt auf der Mikroanalyse, bei der chemische und strukturelle Informationen durch TEM gewonnen werden. Das Buch behandelt zudem fortgeschrittene Techniken wie Elektronenbeugung und Energieverlustspektroskopie. Insgesamt dient das Werk als wertvolle Ressource für Physiker, Materialwissenschaftler und Ingenieure, die sich mit den theoretischen Aspekten der TEM auseinandersetzen oder praktische Anwendungen erforschen möchten.
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