Characterization of Nanostructures
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Beschreibung
"Characterization of Nanostructures" von John C. Riviere ist ein umfassendes Werk, das sich mit den Methoden und Techniken zur Analyse und Charakterisierung von Nanostrukturen befasst. Das Buch bietet einen detaillierten Überblick über verschiedene Analysetechniken wie Elektronenmikroskopie, Rastersondenmikroskopie und Spektroskopiemethoden, die in der Nanotechnologie eingesetzt werden. Es erklärt die physikalischen Prinzipien hinter diesen Techniken und diskutiert deren Anwendungsmöglichkeiten sowie die Herausforderungen bei der Untersuchung von Materialien auf der Nanoskala. Durch zahlreiche Beispiele aus der Praxis vermittelt das Buch sowohl theoretisches Wissen als auch praktische Einblicke für Wissenschaftler und Ingenieure, die im Bereich der Nanotechnologie arbeiten.
Produktdetails
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Über den Autor
- Gebunden
- 304 Seiten
- Erschienen 2004
- Springer
- hardcover
- 410 Seiten
- Erschienen 2006
- ICP
- Gebunden
- 350 Seiten
- Erschienen 2018
- De Gruyter
- Gebunden
- 122 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- hardcover
- 373 Seiten
- Erschienen 1993
- Springer
- Gebunden
- 138 Seiten
- Erschienen 2020
- De Gruyter
- hardcover
- 236 Seiten
- Erschienen 2009
- Springer
- hardcover
- 611 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Kartoniert
- 90 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Gebunden
- 402 Seiten
- Erschienen 1998
- Springer
- Gebunden
- 270 Seiten
- Erschienen 2018
- Springer



