Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

Name: Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
Price: 149.00 EUR
Availability: InStock
Author: Lanza, Mario
ISBN: 3527340912

Lanza, Mario

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Wiley-VCH

Kurzinformation

Sprache:

Englisch

ISBN:

3527340912

Verlag:

Wiley-VCH

Seitenzahl:

362

Auflage:

Erschienen:

2017-10-11

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Beschreibung

Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

Applications in Nanomaterials

Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

Produktdetails

Einband:

Gebunden

Seitenzahl:

362

Erschienen:

2017-10-11

Sprache:

Englisch

EAN:

9783527340910

ISBN:

3527340912

Verlag:

Wiley-VCH

Gewicht:

979 g

Auflage:

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Über den Autor

Lanza, Mario

Dr. Mario Lanza is a Young 1000 Talent Professor and group leader at the Institute of Functional Nano & Soft Materials, in Soochow University, China. He obtained his PhD in 2010 at the Electronic Engineering Department of Universitat Autonoma de Barcelona. In 2010 and 2011 he was postdoctoral scholar at Peking University in China, where he used the technique of conductive atomic force microscopy to characterize a wide range of two dimensional materials and nanowires. In 2012 and 2013 he was Marie Curie postdoctoral fellow at Stanford University, USA, where he used CAFM to study local defects in photoelectrodes for water-splitting solar cells. Dr. Lanza has published more than 60 publications, most of them using the CAFM to study the nanoelectronic properties of different materials and devices. Furthermore, he developed different setups to enhance the capabilities of the CAFM, including an environmental chamber and ultra durable graphene-coated probe tips. Currently his research group is focused on the nanoscale electrical characterization of different devices, including field effect transistors, non-volatile memories and solar cells.