Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
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Beschreibung
"Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials" von Mario Lanza ist ein Fachbuch, das sich mit der Anwendung der leitfähigen Rasterkraftmikroskopie (C-AFM) zur Untersuchung von Nanomaterialien befasst. Das Buch bietet einen detaillierten Überblick über die Prinzipien und Techniken der C-AFM und ihre Bedeutung für die Charakterisierung elektrischer Eigenschaften auf nanoskaliger Ebene. Es behandelt verschiedene Anwendungsbereiche, darunter Halbleiter, Oxide, Kohlenstoffnanoröhren und andere nanostrukturierte Materialien. Durch Fallstudien und praktische Beispiele zeigt Lanza, wie C-AFM genutzt werden kann, um die Leistung und Zuverlässigkeit von nanotechnologischen Geräten zu verbessern. Das Buch richtet sich an Forscher und Ingenieure im Bereich der Nanowissenschaften und -technologie.
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