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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
  • Gebunden
  • 362 Seiten
  • Erschienen 2017
  • Wiley-VCH
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Conductive Atomic Force Microscopy:...
"Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials" von Mario Lanza ist ein Fachbuch, das sich mit der Anwendung der leitfähigen Rasterkraftmikroskopie (C-AFM) zur Untersuchung von Nanomaterialien befasst. Das Buch bietet...
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