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- Gebunden
- 362 Seiten
- Erschienen 2017
- Wiley-VCH
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"Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials" von Mario Lanza ist ein Fachbuch, das sich mit der Anwendung der leitfähigen Rasterkraftmikroskopie (C-AFM) zur Untersuchung von Nanomaterialien befasst. Das Buch bietet...
ab 138,66 €
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