Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
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Beschreibung
"Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications" von Greg Haugstad bietet eine umfassende Einführung in die Rasterkraftmikroskopie (AFM). Das Buch erklärt die grundlegenden Prinzipien und Betriebsmodi der AFM, einschließlich Kontakt-, Tapping- und nicht-kontaktmodi. Es behandelt sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Technologie und illustriert deren Anwendung in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen wie Materialwissenschaften, Biologie und Nanotechnologie. Fortgeschrittene Anwendungen werden ebenfalls diskutiert, wobei der Fokus auf innovativen Techniken und Methoden liegt, um das Verständnis komplexer Oberflächenphänomene zu vertiefen. Mit detaillierten Abbildungen und Beispielen dient das Buch als wertvolle Ressource für Forscher und Studenten, die sich mit den vielfältigen Einsatzmöglichkeiten der AFM vertraut machen möchten.
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