Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
3211206876
Verlag:
Seitenzahl:
554
Auflage:
-
Erschienen:
2004-06-02
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Computational Microelectronics
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts. von Pichler, Peter
Produktdetails
Einband:
Gebunden
Seitenzahl:
554
Erschienen:
2004-06-02
Sprache:
Englisch
EAN:
9783211206874
ISBN:
3211206876
Verlag:
Gewicht:
1191 g
Auflage:
-
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