Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials
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Beschreibung
"Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials" von Challa S.S.R. Kumar ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Anwendung der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) zur Charakterisierung von Nanomaterialien befasst. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die Prinzipien und Techniken der TEM und erklärt, wie diese auf die Untersuchung von Nanostrukturen angewendet werden können. Es behandelt verschiedene Aspekte der Probenvorbereitung, Bildgebung und Analyse, um die physikalischen und chemischen Eigenschaften von Nanomaterialien zu erforschen. Darüber hinaus werden Fallstudien präsentiert, die praktische Einblicke in aktuelle Forschungsanwendungen bieten. Dieses Buch richtet sich an Wissenschaftler und Ingenieure im Bereich der Materialwissenschaften und Nanotechnologie, die ihre Kenntnisse über fortschrittliche Charakterisierungsmethoden vertiefen möchten.
Produktdetails
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Über den Autor
- hardcover
- 314 Seiten
- Erschienen 2012
- CRC Press
- Kartoniert
- 264 Seiten
- Erschienen 2000
- CRC Press
- Gebunden
- 587 Seiten
- Erschienen 2008
- Springer
- Gebunden
- 220 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Gebunden
- 192 Seiten
- Erschienen 2008
- Birkhäuser
- hardcover
- 611 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Gebunden
- 594 Seiten
- Erschienen 2010
- Springer
- Gebunden
- 352 Seiten
- Erschienen 2010
- Humana
- hardcover
- 356 Seiten
- Erschienen 2012
- Taylor & Francis Inc
- hardcover
- 114 Seiten
- Erschienen 2018
- Springer
- hardcover
- 298 Seiten
- Erschienen 2013
- Apple Academic Press
- Gebunden
- 304 Seiten
- Erschienen 2004
- Springer
- hardcover
- 373 Seiten
- Erschienen 1993
- Springer
- Gebunden
- 742 Seiten
- Erschienen 2017
- Wiley-VCH




