Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
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Beschreibung
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods. von Bai, Xiao und Hancock, Edwin R. und Ho, Tin Kam und Wilson, Richard C. und Biggio, Battista und Robles-Kelly, Antonio
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Über den Autor
- hardcover
- 336 Seiten
- Erschienen 2007
- Oxford University Press
- Gebunden
- 197 Seiten
- Erschienen 2012
- Springer
- Gebunden
- 227 Seiten
- Erschienen 2017
- Springer
- Kartoniert
- 392 Seiten
- Erschienen 2007
- Springer
- hardcover
- 90 Seiten
- Erschienen 1976
- John Wiley & Sons Inc
- Gebunden
- 362 Seiten
- Erschienen 1985
- Springer
- paperback
- 204 Seiten
- Erschienen 1999
- Springer
- paperback
- 380 Seiten
- Erschienen 2019
- Springer
- hardcover
- 175 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Gebundene Ausgabe
- 656 Seiten
- Erschienen 2020
- Academic Press
- paperback
- 278 Seiten
- Erschienen 2006
- Continuum
- Gebunden
- 172 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer




