
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
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Beschreibung
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods. von Bai, Xiao und Hancock, Edwin R. und Ho, Tin Kam und Wilson, Richard C. und Biggio, Battista und Robles-Kelly, Antonio
Produktdetails

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Über den Autor
- hardcover
- 336 Seiten
- Erschienen 2007
- Oxford University Press
- paperback
- 128 Seiten
- Erschienen 2004
- Noordhoff Uitgevers
- hardcover
- 90 Seiten
- Erschienen 1976
- John Wiley & Sons Inc
- paperback
- 306 Seiten
- Erschienen 2018
- Packt Publishing
- paperback
- 278 Seiten
- Erschienen 2006
- Continuum
- hardcover
- 458 Seiten
- Erschienen 1995
- Cambridge University Press
- Kartoniert
- 310 Seiten
- Erschienen 2018
- O'Reilly Media
- Gebunden
- 373 Seiten
- Erschienen 2022
- De Gruyter