Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
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Beschreibung
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods. von Bai, Xiao und Hancock, Edwin R. und Ho, Tin Kam und Wilson, Richard C. und Biggio, Battista und Robles-Kelly, Antonio
Produktdetails
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Über den Autor
- Gebunden
- 738 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- paperback
- 124 Seiten
- Erschienen 2009
- VDM Verlag
- hardcover
- 336 Seiten
- Erschienen 2007
- Oxford University Press
- hardcover
- 288 Seiten
- Erschienen 1988
- Springer
- Kartoniert
- 200 Seiten
- Erschienen 2008
- Narr Francke Attempto
- Gebunden
- 197 Seiten
- Erschienen 2012
- Springer
- Gebunden
- 720 Seiten
- Erschienen 1999
- The MIT Press
- paperback
- 136 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer




