
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
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Beschreibung
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2018, held in Beijing, China, in August 2018. The 49 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 75 submissions. They were organized in topical sections named: classification and clustering; deep learning and neurla networks; dissimilarity representations and Gaussian processes; semi and fully supervised learning methods; spatio-temporal pattern recognition and shape analysis; structural matching; multimedia analysis and understanding; and graph-theoretic methods. von Bai, Xiao und Hancock, Edwin R. und Ho, Tin Kam und Wilson, Richard C. und Biggio, Battista und Robles-Kelly, Antonio
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Über den Autor
- Gebunden
- 738 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Kartoniert
- 574 Seiten
- Erschienen 2010
- Springer
- Hardcover -
- Erschienen 2001
- Vieweg Verlagsgesellschaft
- hardcover
- 336 Seiten
- Erschienen 2007
- Oxford University Press
- Hardcover
- 386 Seiten
- Erschienen 2009
- Medical Information Science...
- paperback
- 306 Seiten
- Erschienen 1996
- Hodder Arnold
- Gebunden
- 459 Seiten
- Erschienen 2018
- De Gruyter Mouton
- Kartoniert
- 392 Seiten
- Erschienen 2007
- Springer
- Gebunden
- 368 Seiten
- Erschienen 2015
- Springer
- Hardcover
- 432 Seiten
- Erschienen 2010
- Wiley-Blackwell
- Kartoniert
- 390 Seiten
- Erschienen 2020
- O'Reilly Media
- paperback
- 378 Seiten
- Erschienen 1998
- O'Reilly
- Kartoniert
- 1249 Seiten
- Erschienen 2009
- Springer
- paperback
- 468 Seiten
- Erschienen 2004
- Addison-Wesley Professional
- Hardcover
- 272 Seiten
- Erschienen 1996
- Wiley-Interscience
- paperback
- 191 Seiten
- Erschienen 2010
- O'Reilly Media