Nanometrology Using the Transmission Electron Microscope (Iop Concise Physics)
Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
9781681740560
Verlag:
Seitenzahl:
70
Auflage:
-
Erschienen:
2015-10-12
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Beschreibung
Nanometrology Using the Transmission Electron Microscope (Iop Concise Physics)
The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. Recent technological breakthroughs have revolutionized our understanding of materials via use of the TEM, and it promises to become a significant tool in understanding biological and biomolecular systems such as viruses and DNA molecules. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.
Produktdetails
Einband:
paperback
Seitenzahl:
70
Erschienen:
2015-10-12
Sprache:
Englisch
EAN:
9781681740560
ISBN:
9781681740560
Verlag:
Gewicht:
136 g
Auflage:
-
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