Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Über den Autor

Jürgen Thomas (Jahrgang 1948) studierte 1966 bis 1971 an der Technischen Universität Dresden Physik. Er diplo­mierte und promovier­te bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronen­mikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Ab 1978 war er in der Industrie­forschung für die Ent­wicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vaku­umtechnologien verant­wortlich. 1990 wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leib­niz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er bis heute im La­bor für analy­tische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitet.Thomas Gemming (Jahrgang 1969) studierte 1988 bis 1994 an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte 1998 auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissions­elektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Man­fred Rühle. Als wissenschaftlicher Mitarbeiter erweiterte er sein Arbeitsgebiet auf die analyti­sche Elektronenmikroskopie. Im Jahr 2000 wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er die Abteilung Mikro- und Nanostrukturen leitet. Er ist Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikro­skopie e.V.