Raster-Elektronenmikroskopie
Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
9783540081548
Verlag:
Seitenzahl:
300 Seiten
Auflage:
2., neubearb. u. erw.
Erschienen:
1977
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Beschreibung
Raster-Elektronenmikroskopie
Kristall 47 2. 6. 2. Beugung in Transmission . . . . . . . . 51 2. 6. 3. EinfluB der Beugung auf die Riickstreuung . 54 Literatur zu § 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . 56 3. von Pfefferkorn, G.;Reimer, L.;
Produktdetails
Einband:
Hardcover
Seitenzahl:
300 Seiten
Erschienen:
1977
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783540081548
ISBN:
9783540081548
Verlag:
Gewicht:
522 g
Auflage:
2., neubearb. u. erw.
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