Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy
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Beschreibung
"Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy" von Ricardo García ist ein Fachbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Amplitudenmodulations-Kraftmikroskopie (AM-AFM) befasst. Diese Technik ist eine Variante der Rasterkraftmikroskopie (AFM), die es ermöglicht, Oberflächen auf nanoskaliger Ebene mit hoher Präzision zu untersuchen. Das Buch bietet eine umfassende Einführung in die physikalischen Prinzipien hinter AM-AFM, einschließlich der Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe sowie der Signalverarbeitungstechniken. Es behandelt auch praktische Aspekte wie die Kalibrierung und Optimierung des Mikroskops sowie verschiedene Anwendungsbereiche in der Materialwissenschaft, Biologie und Nanotechnologie. Durch zahlreiche Abbildungen und mathematische Modelle wird dem Leser ein tiefgehendes Verständnis für diese fortschrittliche mikroskopische Methode vermittelt.
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