
Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications
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Beschreibung
"Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications" von Dawn Bonnell bietet eine umfassende Einführung in die Welt der Rastersondenmikroskopie (SPM) und Spektroskopie. Das Buch deckt die theoretischen Grundlagen dieser Technologien ab und erklärt die physikalischen Prinzipien, die ihrer Funktionsweise zugrunde liegen. Es beschreibt verschiedene SPM-Techniken wie Rasterkraftmikroskopie (AFM), Rastertunnelmikroskopie (STM) und ihre Varianten. Zudem werden praktische Anwendungen in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen diskutiert, darunter Materialwissenschaften, Biologie und Nanotechnologie. Durch Beiträge von Experten auf diesem Gebiet bietet das Buch sowohl einen tiefen Einblick in fortgeschrittene Methoden als auch praxisnahe Anleitungen für Forscher und Techniker.
Produktdetails

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Über den Autor
- Gebunden
- 642 Seiten
- Erschienen 2011
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 133 Seiten
- Erschienen 2014
- IOP PUBL LTD
- Hardcover
- 532 Seiten
- Erschienen 1984
- Wspc
- hardcover
- 402 Seiten
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- Wiley-VCH
- hardcover
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- Wiley-VCH
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- 416 Seiten
- Erschienen 2011
- Wiley-VCH
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- Wiley-VCH
- Hardcover -
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- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 534 Seiten
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- Springer
- paperback
- 269 Seiten
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- Society of Photo Optical
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- 310 Seiten
- Erschienen 2007
- Wiley-VCH
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- 958 Seiten
- Erschienen 1995
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- 326 Seiten
- Erschienen 2007
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 645 Seiten
- Erschienen 2009
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