Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
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Beschreibung
"Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications" von Moises Padilla bietet eine umfassende Einführung in die Analyse von Streifenmustern, die in der optischen Messtechnik verwendet werden. Das Buch deckt sowohl theoretische Grundlagen als auch praktische Algorithmen ab und zeigt deren Anwendungen in verschiedenen Bereichen der optischen Messtechnik auf. Es behandelt Themen wie die mathematische Modellierung von Streifenmustern, Bildverarbeitungsalgorithmen zur Extraktion und Analyse dieser Muster sowie spezifische Anwendungsfälle in der Industrie und Forschung. Durch zahlreiche Beispiele und Abbildungen wird das Verständnis für komplexe Konzepte erleichtert, was das Buch zu einer wertvollen Ressource für Studierende, Forscher und Fachleute auf diesem Gebiet macht.
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