Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies

Name: Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies
Price: 129.00 EUR
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Author: Osten, Wolfgang
ISBN: 3527410643

Osten, Wolfgang

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Wiley-VCH

Kurzinformation

Sprache:

Englisch

ISBN:

3527410643

Verlag:

Wiley-VCH

Seitenzahl:

482

Auflage:

Erschienen:

2012-08-22

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Beschreibung

Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies

Advanced Technologies

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"Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies", herausgegeben von Nadya Reingand, ist ein umfassendes Werk, das sich mit den neuesten Fortschritten und Anwendungen in der optischen Bildgebung und Messtechnik befasst. Das Buch bietet einen detaillierten Überblick über moderne optische Technologien und deren Einsatz in verschiedenen industriellen und wissenschaftlichen Bereichen. Es deckt Themen wie 3D-Bildgebung, Lasermesstechnik, holographische Verfahren und Spektroskopie ab. Zudem werden innovative Entwicklungen wie die Verwendung von Nanomaterialien und photonischen Sensoren diskutiert. Durch Beiträge von Experten auf diesem Gebiet richtet sich das Buch sowohl an Forscher als auch an Fachleute aus der Industrie, die sich für die Anwendung fortschrittlicher optischer Techniken interessieren.

Produktdetails

Einband:

Gebunden

Seitenzahl:

482

Erschienen:

2012-08-22

Sprache:

Englisch

EAN:

9783527410644

ISBN:

3527410643

Verlag:

Wiley-VCH

Gewicht:

1090 g

Auflage:

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Über den Autor

Osten, Wolfgang

Prof. Dr. Wolfgang Osten received the BSc from the University of Jena, Germany, in 1979. From 1979 to 1984 he was a member of the Institute of Mechanics in Berlin, working in the field of experimental stress analysis and optical metrology. In 1983 he received the PhD degree from the Martin-Luther-University Halle-Wittenberg for his thesis in the field of holographic interferometry. From 1984 to 1991 he was employed at the Central Institute of Cybernetics and Information Processes in Berlin making investigations in digital image processing and computer vision and heading the Institute for Digital Image Processing from 1988 to 1991. In 1991 he joined the Bremen Institute of Applied Beam Technology (BIAS) to establish and to direct the Department of Optical 3D-Metrology till 2002. Since September 2002 he has been a full professor at the University of Stuttgart and director of the Institute for Applied Optics. Between 2006 and 2010 he was the vice rector for research and technology of the Stuttgart University. His research work is focused on new concepts for industrial inspection and metrology by combining modern principles of optical metrology, sensor technology and image processing. Special attention is paid to the development of resolution enhanced technologies for the investigation of micro and nano structures.