
Scanning Probe Microscopy of Soft Matter: Fundamentals and Practices
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Beschreibung
"Scanning Probe Microscopy of Soft Matter: Fundamentals and Practices" von Srikanth Singamaneni bietet eine umfassende Einführung in die Anwendung der Rastersondenmikroskopie (SPM) zur Untersuchung weicher Materie. Das Buch behandelt die grundlegenden Prinzipien und Techniken der SPM, einschließlich der verschiedenen Modi wie Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rastertunnelmikroskopie (STM). Es legt besonderen Fokus auf die Herausforderungen und Methoden zur Charakterisierung weicher Materialien wie Polymere, biologische Proben und Nanokomposite. Praktische Anleitungen und Fallstudien veranschaulichen den Einsatz dieser Technologien in der modernen Materialforschung. Das Werk richtet sich an Wissenschaftler und Ingenieure, die sich mit den physikalischen Eigenschaften weicher Materie befassen, sowie an Studierende, die ein vertieftes Verständnis der SPM-Techniken erlangen möchten.
Produktdetails

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Über den Autor
- Gebunden
- 534 Seiten
- Erschienen 2003
- Springer
- Gebunden
- 362 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 133 Seiten
- Erschienen 2014
- IOP PUBL LTD
- Kartoniert
- 248 Seiten
- Erschienen 2009
- Springer
- Hardcover
- 532 Seiten
- Erschienen 1984
- Wspc
- paperback
- 269 Seiten
- Erschienen 1989
- Society of Photo Optical
- Gebunden
- 1418 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- hardcover
- 328 Seiten
- Erschienen 2008
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 777 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- Taschenbuch
- 378 Seiten
- Erschienen 2011
- ICP
- Hardcover
- 288 Seiten
- Erschienen 2024
- Wiley
- Gebunden
- 322 Seiten
- Erschienen 2007
- Wiley-VCH