Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

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9781441938374.1

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Einband:	Taschenbuch
Seitenzahl:	216 Seiten
Erschienen:	2020-01-18
Sprache:	Englisch
EAN:	9781441938374
ISBN:	9781441938374
Reihe:
Verlag:	Springer
Gewicht:	381 g
Auflage:

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