Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

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9781441938374.1

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Einband: Taschenbuch
Seitenzahl: 216 Seiten
Erschienen: 2020-01-18
Sprache: Englisch
EAN: 9781441938374
ISBN: 9781441938374
Reihe:
Verlag: Springer
Gewicht: 381 g
Auflage:
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Produktinformationen "Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM"
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