Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
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Beschreibung
"Electron Microscopy and Analysis, Third Edition" von Peter J. Goodhew ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Elektronenmikroskopie beschäftigt. Die dritte Ausgabe bietet eine detaillierte Einführung in die Prinzipien und Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Das Buch behandelt Themen wie die Erzeugung und Wechselwirkung von Elektronenstrahlen, Bildgebungstechniken, Probenvorbereitung sowie analytische Methoden zur Materialcharakterisierung. Es richtet sich sowohl an Studierende als auch an Fachleute in den Bereichen Materialwissenschaften, Physik und Ingenieurwesen und dient als wertvolle Ressource für das Verständnis der mikroskopischen Analyse von Materialien.
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