
Surface Analysis: The Principal Techniques
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Beschreibung
"Surface Analysis: The Principal Techniques" von Ian S. Gilmore ist ein umfassendes Werk, das sich mit den verschiedenen Methoden der Oberflächenanalyse beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die wichtigsten Techniken zur Untersuchung von Oberflächen und Grenzflächen, die in zahlreichen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen relevant sind. Die Autoren erklären grundlegende Prinzipien und Einsatzmöglichkeiten von Methoden wie der Rastertunnelmikroskopie (STM), Rasterkraftmikroskopie (AFM), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS). Jede Methode wird ausführlich beschrieben, einschließlich ihrer theoretischen Grundlagen, praktischen Anwendungen sowie Vor- und Nachteile. Das Buch richtet sich an Wissenschaftler, Ingenieure und Studierende, die in Bereichen wie Materialwissenschaften, Physik, Chemie oder Nanotechnologie tätig sind. Es dient sowohl als Lehrbuch für Einsteiger als auch als Referenzwerk für erfahrene Forscher. Durch Beiträge zahlreicher Experten bietet es einen aktuellen Überblick über den Stand der Technik in der Oberflächenanalyse.
Produktdetails

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Über den Autor
- paperback
- 281 Seiten
- Erschienen 2005
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 224 Seiten
- Erschienen 2020
- Carl Hanser Verlag GmbH & C...
- Gebunden
- 618 Seiten
- Erschienen 2006
- Wiley-VCH
- hardcover
- 752 Seiten
- Erschienen 1999
- ASM International
- hardcover
- 696 Seiten
- Erschienen 2001
- CRC Press
- Gebunden
- 294 Seiten
- Erschienen 2021
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 309 Seiten
- Erschienen 2016
- Wiley-VCH
- Kartoniert
- 539 Seiten
- Erschienen 2021
- Wiley-VCH