Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-
Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
3736990200
Verlag:
Seitenzahl:
160
Auflage:
-
Erschienen:
2016-03-01
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Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-
Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001) von Allwörden, Henning von
Produktdetails
Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
160
Erschienen:
2016-03-01
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783736990203
ISBN:
3736990200
Verlag:
Gewicht:
231 g
Auflage:
-
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