Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Kurzinformation
Handgeprüfte Gebrauchtware
Schnelle Lieferung
Faire Preise
inkl. MwSt. Versandinformationen
Lieferzeit 1-3 Werktage
Lieferzeit 1-3 Werktage
Beschreibung
"Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials" von James M. Howe ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Grundlagen und Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Diffraktometrie in der Materialwissenschaft beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die theoretischen und praktischen Aspekte dieser Techniken, einschließlich der physikalischen Prinzipien, Instrumentierung und Methodik. Es behandelt Themen wie Elektronenbeugung, Bildgebungstechniken, Analyse von Kristallstrukturen und Defekten sowie fortgeschrittene Methoden zur Charakterisierung von Materialien auf atomarer Ebene. Durch zahlreiche Abbildungen, Diagramme und Beispielprobleme vermittelt das Buch sowohl grundlegende Konzepte als auch fortgeschrittene Anwendungen für Studierende und Forscher im Bereich Physik und Materialwissenschaften.
Produktdetails
So garantieren wir Dir zu jeder Zeit Premiumqualität.
Entdecke mehr vom Verlag
