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Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction

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Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
9781848165366
Seitenzahl:
335
Auflage:
-
Erschienen:
2010-07-31
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Beschreibung

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Diese Beschreibung wurde mittels künstlicher Intelligenz generiert

"Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction" von Rolf Erni bietet eine umfassende Einführung in die Technik der aberrationskorrigierten Bildgebung in der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Das Buch erklärt die Grundlagen der TEM und die Herausforderungen, die durch optische Aberrationen entstehen. Es beschreibt detailliert, wie moderne Korrekturtechnologien diese Probleme überwinden und dadurch die Bildauflösung erheblich verbessern können. Der Autor behandelt sowohl theoretische Aspekte als auch praktische Anwendungen und bietet Einblicke in aktuelle Entwicklungen auf diesem Gebiet. Das Buch richtet sich an Studierende, Forscher und Fachleute, die ein tieferes Verständnis der fortgeschrittenen Techniken zur Verbesserung der Bildqualität in der Elektronenmikroskopie erlangen möchten.

Produktdetails

Einband:
hardcover
Seitenzahl:
335
Erschienen:
2010-07-31
Sprache:
Englisch
EAN:
9781848165366
ISBN:
9781848165366
Gewicht:
681 g
Auflage:
-
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