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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

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Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
146142190X
Seitenzahl:
182
Auflage:
-
Erschienen:
2012-03-02
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Beschreibung

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. von Vogt, Thomas und Dahmen, Wolfgang und Binev, Peter

Produktdetails

Einband:
Gebunden
Seitenzahl:
182
Erschienen:
2012-03-02
Sprache:
Englisch
EAN:
9781461421900
ISBN:
146142190X
Gewicht:
459 g
Auflage:
-
Verwandte Sachgebiete:
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Über den Autor

Thomas Vogt is Director of the NanoCenter Educational Foundation and Distinguished Professor of Chemistry & Biochemistry at the University of South Carolina. Wolfgang Dahmen is a professor at RWTH Aachen. Peter G. Binev is a Professor of Mathematics at the University of South Carolina.


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