LeafKlimaneutrales Unternehmen CoinFaire Preise PackageSchneller und kostenloser Versand ab 14,90 € Bestellwert
IDDQ Testing of VLSI Circuits

IDDQ Testing of VLSI Circuits

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Artikel zZt. nicht lieferbar

Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
0792393155
Verlag:
Seitenzahl:
132
Auflage:
-
Erschienen:
1992-12-31
Dieser Artikel steht derzeit nicht zur Verfügung!

Gebrauchte Bücher kaufen

Information
Das Buch befindet sich in einem sehr guten, unbenutzten Zustand.
Information
Das Buch befindet sich in einem sehr guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können leichte Gebrauchsspuren aufweisen.
Information
Das Buch befindet sich in einem guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können Knicke/Gebrauchsspuren aufweisen.
Information
Das Buch befindet sich in einem lesbaren Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt, jedoch weisen Buchrücken/Ecken/Kanten starke Knicke/Gebrauchsspuren auf. Zusatzmaterialien können fehlen.

Neues Buch oder eBook (pdf) kaufen

Information
Neuware - verlagsfrische aktuelle Buchausgabe.
Natural Handgeprüfte Gebrauchtware
Coins Schnelle Lieferung
Check Faire Preise

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Artikel zZt. nicht lieferbar

Weitere Zahlungsmöglichkeiten  
Zahlungsarten

Beschreibung

IDDQ Testing of VLSI Circuits

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. Both Sandia Labs and RCA in the United States and Philips Labs in the Netherlands practiced this procedure on their CMOS ICs. At that time, this practice stemmed simply from an intuitive sense that CMOS ICs showing abnormal quiescent power supply current (IDDQ) contained defects. Later, this intuition was supported by data and analysis in the 1980s by Levi (RACD, Malaiya and Su (SUNY-Binghamton), Soden and Hawkins (Sandia Labs and the University of New Mexico), Jacomino and co-workers (Laboratoire d'Automatique de Grenoble), and Maly and co-workers (Carnegie Mellon University). Interest in IDDQ testing has advanced beyond the data reported in the 1980s and is now focused on applications and evaluations involving larger volumes of ICs that improve quality beyond what can be achieved by previous conventional means. In the conventional style of testing one attempts to propagate the logic states of the suspended nodes to primary outputs. This is done for all or most nodes of the circuit. For sequential circuits, in particular, the complexity of finding suitable tests is very high. In comparison, the IDDQ test does not observe the logic states, but measures the integrated current that leaks through all gates. In other words, it is like measuring a patient's temperature to determine the state of health. Despite perceived advantages, during the years that followed its initial announcements, skepticism about the practicality of IDDQ testing prevailed. The idea, however, provided a great opportunity to researchers. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported. After a decade of research, we are definitely closer to practice. von Hawkins, Charles F. und Gulati, Ravi K.

Produktdetails

Einband:
Gebunden
Seitenzahl:
132
Erschienen:
1992-12-31
Sprache:
Englisch
EAN:
9780792393153
ISBN:
0792393155
Verlag:
Gewicht:
460 g
Auflage:
-
Verwandte Sachgebiete:
Alle gebrauchten Bücher werden von uns handgeprüft.
So garantieren wir Dir zu jeder Zeit Premiumqualität.

Entdecke mehr vom Verlag


Neu
106,99 €
Entdecke mehr Gebrauchtes für Dich
frontend/listing/product-box/box-product-slider.tpl
frontend/listing/product-box/box-product-slider.tpl