Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)
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Beschreibung
"Semiconductor Material and Device Characterization" von Dieter K. Schroder ist ein umfassendes Handbuch, das sich auf die Charakterisierung von Halbleitermaterialien und -geräten konzentriert. Es bietet einen gründlichen Überblick über verschiedene Techniken und Methoden zur Messung der Eigenschaften von Halbleitern. Das Buch behandelt Themen wie optische, elektrische und strukturelle Charakterisierungstechniken sowie deren Anwendung auf verschiedene Materialien und Geräte. Es dient als wertvolle Ressource für Ingenieure, Forscher und Studenten in den Bereichen Elektrotechnik und Materialwissenschaften, die sich mit der Entwicklung und Anwendung von Halbleitertechnologien beschäftigen.
Produktdetails
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Über den Autor
- hardcover
- 330 Seiten
- Erschienen 2010
- Wiley-VCH
- hardcover
- 228 Seiten
- Erschienen 2007
- Wiley-VCH
- hardcover
- 657 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- hardcover
- 912 Seiten
- Erschienen 2021
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 454 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley