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Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

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Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
9780471739067
Seitenzahl:
840
Auflage:
-
Erschienen:
2006-01-30
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Beschreibung

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)
Diese Beschreibung wurde mittels künstlicher Intelligenz generiert

"Semiconductor Material and Device Characterization" von Dieter K. Schroder ist ein umfassendes Handbuch, das sich auf die Charakterisierung von Halbleitermaterialien und -geräten konzentriert. Es bietet einen gründlichen Überblick über verschiedene Techniken und Methoden zur Messung der Eigenschaften von Halbleitern. Das Buch behandelt Themen wie optische, elektrische und strukturelle Charakterisierungstechniken sowie deren Anwendung auf verschiedene Materialien und Geräte. Es dient als wertvolle Ressource für Ingenieure, Forscher und Studenten in den Bereichen Elektrotechnik und Materialwissenschaften, die sich mit der Entwicklung und Anwendung von Halbleitertechnologien beschäftigen.

Produktdetails

Einband:
hardcover
Seitenzahl:
840
Erschienen:
2006-01-30
Sprache:
Englisch
EAN:
9780471739067
ISBN:
9780471739067
Verlag:
Gewicht:
1301 g
Auflage:
-
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