Analysis and mitigation of the factors limiting the efficiency of high power distributed feedback di

Name: Analysis and mitigation of the factors limiting the efficiency of high power distributed feedback di
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Availability: InStock
Author: Schultz, Christoph Matthias
ISBN: 3954045214

Schultz, Christoph Matthias

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Kurzinformation

Sprache:

Deutsch

ISBN:

3954045214

Verlag:

Cuvillier Verlag

Seitenzahl:

346

Auflage:

Erschienen:

2013-10-08

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Beschreibung

Analysis and mitigation of the factors limiting the efficiency of high power distributed feedback di

Analysis and mitigation of the factors limiting the efficiency of high power distributed feedback diode lasers von Schultz, Christoph Matthias

Produktdetails

Einband:

Kartoniert

Seitenzahl:

346

Erschienen:

2013-10-08

Sprache:

Deutsch

EAN:

9783954045211

ISBN:

3954045214

Verlag:

Cuvillier Verlag

Gewicht:

501 g

Auflage:

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Über den Autor

Schultz, Christoph Matthias

Christoph Matthias Schultz, born in 1980, received his diploma degree in physics from the University of Hamburg in 2007. His research interests were focused on semiconductor physics, optoelectronics and physics of nanostructures. In his diploma thesis and scientific publications he reports on optical modes in self-assembled semiconductor micro tube resonators.From 2008 to 2012 Christoph Matthias Schultz joined the Ferdinand-Braun-Institut in Berlin, where his key research interests were in the development and simulation of high efficiency, high power diode lasers with monolithically integrated wavelength stabilization. Scientific and technological progress achieved during this period was presented in publications and on international conferences. A patent has been granted regarding the invention of a design and fabrication technique for high efficiency, wavelength stabilized diode lasers. His doctoral thesis concerns the analysis and mitigation of the factors limiting the efficiency of high power distributed feedback diode lasers. In 2013 he received the Dr. rer. nat. degree from the Technische Universität Berlin.In 2012 Christoph Matthias Schultz joined NXP Semiconductors, Test Center Europe in Hamburg, where he works in the field of wafer test innovation, design of qualification experiments and automated optical inspection.