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High-Resolution X-Ray Microscopy of Radiation Sensitive Material
Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
3897127490
Verlag:
Seitenzahl:
200
Auflage:
-
Erschienen:
1997-01-01
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Beschreibung
High-Resolution X-Ray Microscopy of Radiation Sensitive Material
High-Resolution X-Ray Microscopy of Radiation Sensitive Material von Schneider, Gerd
Produktdetails
Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
200
Erschienen:
1997-01-01
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783897127494
ISBN:
3897127490
Verlag:
Gewicht:
271 g
Auflage:
-
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