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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

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Kurzinformation
Sprache:
Deutsch
ISBN:
3658221771
Seitenzahl:
639
Auflage:
-
Erschienen:
2020-01-25
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Beschreibung

Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. von Bajenescu, Titu-Marius I.

Produktdetails

Einband:
Gebunden
Seitenzahl:
639
Erschienen:
2020-01-25
Sprache:
Deutsch
EAN:
9783658221775
ISBN:
3658221771
Gewicht:
1428 g
Auflage:
-
Verwandte Sachgebiete:
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Über den Autor

Titu-Marius I. Bajenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.


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