Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 (NanoScience and Technology)
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Beschreibung
"Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2" von Bharat Bhushan ist ein umfassendes Werk, das sich mit den Anwendungen und Entwicklungen der Rastersondenmikroskopie (SPM) im Bereich der Nanowissenschaft und Nanotechnologie beschäftigt. Das Buch baut auf dem ersten Band auf und erweitert die Diskussion um fortgeschrittene Techniken und innovative Anwendungen von SPM. Der Inhalt umfasst detaillierte Erklärungen zu verschiedenen SPM-Techniken wie Rasterkraftmikroskopie (AFM), Rastertunnelmikroskopie (STM) und weiteren spezialisierten Methoden. Es wird aufgezeigt, wie diese Technologien zur Untersuchung von Oberflächenstrukturen auf atomarer Ebene eingesetzt werden können. Zudem behandelt das Buch die Integration von SPM in verschiedene wissenschaftliche Disziplinen, darunter Materialwissenschaften, Biologie und Physik. Ein besonderer Fokus liegt auf den neuesten Fortschritten in der Technologie sowie deren Anwendungspotential für die Entwicklung neuer Materialien und Geräte im Nanobereich. Fallstudien und Beispiele aus der Praxis veranschaulichen die theoretischen Konzepte und zeigen die Relevanz der SPM-Techniken in aktuellen Forschungs- und Entwicklungsprojekten. Insgesamt bietet das Buch eine wertvolle Ressource für Wissenschaftler, Ingenieure und Studenten, die sich mit den Herausforderungen und Möglichkeiten der Nanotechnologie auseinandersetzen möchten.
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