Thermal Testing of Integrated Circuits
Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
1402070764
Verlag:
Seitenzahl:
204
Auflage:
-
Erschienen:
2002-06-30
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Beschreibung
Thermal Testing of Integrated Circuits
Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art. von Altet, Josep und Rubio, Antonio
Produktdetails
Einband:
Gebunden
Seitenzahl:
204
Erschienen:
2002-06-30
Sprache:
Englisch
EAN:
9781402070761
ISBN:
1402070764
Verlag:
Gewicht:
500 g
Auflage:
-
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