Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, Band 17)
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Beschreibung
"Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits" von Vishwani Agrawal ist ein umfassendes Werk, das sich mit den grundlegenden Konzepten und Techniken der elektronischen Prüfung von integrierten Schaltungen befasst. Das Buch behandelt die wesentlichen Aspekte des Testens von VLSI-Schaltungen (Very-Large-Scale Integration), einschließlich digitaler, Speicher- und Mixed-Signal-Komponenten. Es bietet einen detaillierten Überblick über verschiedene Testmethodologien, -strategien und -werkzeuge, die bei der Sicherstellung der Funktionalität und Zuverlässigkeit moderner Halbleiterbauelemente eingesetzt werden. Die Autoren erläutern sowohl theoretische Konzepte als auch praktische Anwendungen und decken Themen wie Fehlermodellierung, Testmustererzeugung, Design-for-Testability (DfT) und Built-In Self-Test (BIST) ab. Das Buch richtet sich an Studierende, Forscher und Fachleute in der Elektrotechnik und Informatik, die ein tieferes Verständnis für die Herausforderungen und Lösungen im Bereich des elektronischen Testens von VLSI-Schaltungen erlangen möchten.
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