Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution
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Beschreibung
"Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution" von S. Suresh ist ein umfassendes Werk, das sich mit den physikalischen und mechanischen Eigenschaften von dünnen Filmen beschäftigt. Das Buch untersucht die Ursachen und Auswirkungen von mechanischem Stress in dünnen Filmschichten sowie die Bildung von Defekten während des Herstellungsprozesses. Es behandelt auch die dynamische Entwicklung der Oberflächenstruktur dieser Materialien. Durch eine interdisziplinäre Herangehensweise integriert das Werk Konzepte aus der Materialwissenschaft, Physik und Ingenieurwesen, um ein tiefes Verständnis für die Herausforderungen bei der Herstellung und Anwendung von Dünnschichtmaterialien zu vermitteln. Praktische Beispiele und theoretische Modelle werden genutzt, um Techniken zur Optimierung der Materialeigenschaften zu diskutieren.
Produktdetails
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Über den Autor
- hardcover
- 373 Seiten
- Erschienen 1993
- Springer
- Gebunden
- 440 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Gebunden
- 276 Seiten
- Erschienen 2018
- Springer
- Gebunden
- 594 Seiten
- Erschienen 2010
- Springer
- Gebunden
- 350 Seiten
- Erschienen 2018
- De Gruyter
- hardcover
- 448 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Gebunden
- 617 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Gebunden
- 279 Seiten
- Erschienen 2010
- Springer
- hardcover
- 308 Seiten
- Erschienen 1993
- Springer
- Gebunden
- 88 Seiten
- Erschienen 2017
- Springer



