Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution
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Beschreibung
"Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution" von S. Suresh ist ein umfassendes Werk, das sich mit den physikalischen und mechanischen Eigenschaften von dünnen Filmen beschäftigt. Das Buch untersucht die Ursachen und Auswirkungen von mechanischem Stress in dünnen Filmschichten sowie die Bildung von Defekten während des Herstellungsprozesses. Es behandelt auch die dynamische Entwicklung der Oberflächenstruktur dieser Materialien. Durch eine interdisziplinäre Herangehensweise integriert das Werk Konzepte aus der Materialwissenschaft, Physik und Ingenieurwesen, um ein tiefes Verständnis für die Herausforderungen bei der Herstellung und Anwendung von Dünnschichtmaterialien zu vermitteln. Praktische Beispiele und theoretische Modelle werden genutzt, um Techniken zur Optimierung der Materialeigenschaften zu diskutieren.
Produktdetails
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Über den Autor
- Gebunden
- 208 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Gebunden
- 440 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Kartoniert
- 192 Seiten
- Erschienen 2020
- De Gruyter Oldenbourg
- hardcover
- 448 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- Gebunden
- 436 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Gebunden
- 328 Seiten
- Erschienen 2010
- Springer
- Gebunden
- 617 Seiten
- Erschienen 2011
- Springer
- Gebunden
- 279 Seiten
- Erschienen 2010
- Springer
- Gebunden
- 88 Seiten
- Erschienen 2017
- Springer
- paperback
- 298 Seiten
- Erschienen 2026
- Elsevier
- hardcover
- 384 Seiten
- Erschienen 2013
- Springer
- hardcover
- 285 Seiten
- Erschienen 2004
- Springer
- Gebunden
- 400 Seiten
- Erschienen 2008
- Springer
- Gebunden
- 687 Seiten
- Erschienen 2010
- Wiley-VCH



