
Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
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Beschreibung
"Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice" ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Technologie und Anwendung von fokussierten Ionenstrahlen (FIB) beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die Instrumentierung und Theorie hinter FIB-Systemen sowie die verschiedenen Techniken und praktischen Anwendungen dieser Technologie. Es behandelt Themen wie die physikalischen Grundlagen von Ionenstrahlen, ihre Interaktion mit Materialien und die Möglichkeiten zur Probenpräparation und -bearbeitung. Darüber hinaus werden fortgeschrittene Anwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Halbleiterindustrie diskutiert. Das Buch richtet sich sowohl an Wissenschaftler als auch an Ingenieure, die diese vielseitige Technik verstehen und anwenden möchten.
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Über den Autor
- Hardcover
- 380 Seiten
- Erschienen 2000
- World Scientific Publishing...
- hardcover
- 326 Seiten
- Erschienen 2011
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 416 Seiten
- Erschienen 1991
- Springer
- Gebunden
- 529 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- Hardcover
- 392 Seiten
- Erschienen 2008
- World Scientific Publishing...
- Gebunden
- 378 Seiten
- Erschienen 2009
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 777 Seiten
- Erschienen 2012
- Wiley-VCH
- hardcover
- 198 Seiten
- Erschienen 2006
- Wiley-VCH
- Gebunden
- 284 Seiten
- Erschienen 2005
- Wiley-VCH
- hardcover
- 202 Seiten
- Erschienen 1999
- Springer
- hardcover
- 267 Seiten
- Erschienen 2000
- Wiley-VCH Verlag GmbH & Co....
- Hardcover
- 133 Seiten
- Erschienen 2014
- IOP PUBL LTD
- hardcover
- 209 Seiten
- Erschienen 1982
- Springer
- Gebunden
- 313 Seiten
- Erschienen 2008
- Wiley-VCH
- Taschenbuch
- 368 Seiten
- Erschienen 2020
- Wiley
- Gebunden
- 212 Seiten
- Erschienen 2009
- Springer