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Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice

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Sprache:
Englisch
ISBN:
9780387231167
Verlag:
Seitenzahl:
374
Auflage:
-
Erschienen:
2004-11-19
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Beschreibung

Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
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"Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice" ist ein umfassendes Werk, das sich mit der Technologie und Anwendung von fokussierten Ionenstrahlen (FIB) beschäftigt. Das Buch bietet eine detaillierte Einführung in die Instrumentierung und Theorie hinter FIB-Systemen sowie die verschiedenen Techniken und praktischen Anwendungen dieser Technologie. Es behandelt Themen wie die physikalischen Grundlagen von Ionenstrahlen, ihre Interaktion mit Materialien und die Möglichkeiten zur Probenpräparation und -bearbeitung. Darüber hinaus werden fortgeschrittene Anwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Halbleiterindustrie diskutiert. Das Buch richtet sich sowohl an Wissenschaftler als auch an Ingenieure, die diese vielseitige Technik verstehen und anwenden möchten.

Produktdetails

Einband:
hardcover
Seitenzahl:
374
Erschienen:
2004-11-19
Sprache:
Englisch
EAN:
9780387231167
ISBN:
9780387231167
Verlag:
Gewicht:
691 g
Auflage:
-
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