An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement (The Oxford Series in Electrical and Computer Engineering)

"An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement" von Mark Burns ist ein umfassendes Lehrbuch, das sich mit den Herausforderungen und Techniken der gemischten Signal- und System-on-a-Chip (SoC) Test- und Messmethoden befasst. Es bietet eine detaillierte Einführung in die Konzepte und Methoden, die für die Prüfung und Messung von gemischten Signal-ICs notwendig sind. Das Buch deckt eine Vielzahl von Themen ab, darunter Grundlagen der analogen und digitalen Schaltkreise, Testausrüstung und -techniken, Fehlermodelle für gemischte Signale, Design for Testability (DFT), eingebaute Selbsttests (BIST) sowie verschiedene Prüf- und Messstrategien. Es enthält auch zahlreiche Beispiele und Übungen zur Veranschaulichung der Konzepte. Dieses Buch ist ein wertvolles Ressource für Ingenieure, Studenten und Forscher im Bereich der Halbleitertechnik.