Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
9780198754756
Verlag:
Seitenzahl:
488 Seiten
Auflage:
Reprint
Erschienen:
2016
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Beschreibung
Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
The scanning tunneling and the atomic force microscope, both capable of imaging individual atoms, were crowned with the Physics Nobel Prize in 1986, and are the cornerstones of nanotechnology today. The 1st edition has nurtured numerous beginners and experts since 1993. The 2nd edition is a thoroughly updated version of this 'bible' in the field. von Chen, C. Julian
Produktdetails
Einband:
Taschenbuch
Seitenzahl:
488 Seiten
Erschienen:
2016
Sprache:
Englisch
EAN:
9780198754756
ISBN:
9780198754756
Verlag:
Gewicht:
726 g
Auflage:
Reprint
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