VLSI Design and Test
Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
9811359490
Verlag:
Seitenzahl:
722
Auflage:
-
Erschienen:
2019-03-01
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Beschreibung
VLSI Design and Test
22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces. von Rajaram, S.
Produktdetails
Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
722
Erschienen:
2019-03-01
Sprache:
Englisch
EAN:
9789811359491
ISBN:
9811359490
Verlag:
Gewicht:
1101 g
Auflage:
-
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