LeafKlimaneutrales Unternehmen CoinFaire Preise PackageSchneller und kostenloser Versand ab 14,90 € Bestellwert
Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors

Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Artikel zZt. nicht lieferbar

Kurzinformation
Sprache:
Englisch
ISBN:
383960897X
Seitenzahl:
172
Auflage:
-
Erschienen:
2015-06-29
Dieser Artikel steht derzeit nicht zur Verfügung!

Gebrauchte Bücher kaufen

Information
Das Buch befindet sich in einem sehr guten, unbenutzten Zustand.
Information
Das Buch befindet sich in einem sehr guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können leichte Gebrauchsspuren aufweisen.
Information
Das Buch befindet sich in einem guten, gelesenen Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt. Buchrücken/Ecken/Kanten können Knicke/Gebrauchsspuren aufweisen.
Information
Das Buch befindet sich in einem lesbaren Zustand. Die Seiten und der Einband sind intakt, jedoch weisen Buchrücken/Ecken/Kanten starke Knicke/Gebrauchsspuren auf. Zusatzmaterialien können fehlen.

Neues Buch oder eBook (pdf) kaufen

Information
Neuware - verlagsfrische aktuelle Buchausgabe.
Natural Handgeprüfte Gebrauchtware
Coins Schnelle Lieferung
Check Faire Preise

inkl. MwSt. Versandinformationen

Artikel zZt. nicht lieferbar

Artikel zZt. nicht lieferbar

Weitere Zahlungsmöglichkeiten  
Zahlungsarten

Beschreibung

Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors

Most of our modern lifestyle is based on an ever expanding communication technology marked by higher frequencies and bandwidth. Nowadays used devices reach material limits and GaN possess intrinsic advantages to replace current technology. To serve as a considerable alternative, the reliability of GaN devices is a key factor. This thesis addresses the main physical degradation processes of state-of-the-art devices. The main problems of GaN are twofold: Due to the device realisation and operating conditions, large electric fields are appearing leading to a unique degradation pattern. Previous given explanation fails, and a new approach to overcome this problem could be shown in this work, alongside with solutions for field mitigation. von Cäsar, Markus

Produktdetails

Einband:
Kartoniert
Seitenzahl:
172
Erschienen:
2015-06-29
Sprache:
Englisch
EAN:
9783839608975
ISBN:
383960897X
Gewicht:
261 g
Auflage:
-
Alle gebrauchten Bücher werden von uns handgeprüft.
So garantieren wir Dir zu jeder Zeit Premiumqualität.

Über den Autor


Entdecke mehr vom Verlag


Neu
48,00 €
Entdecke mehr Gebrauchtes für Dich
frontend/listing/product-box/box-product-slider.tpl
frontend/listing/product-box/box-product-slider.tpl